МИКРОСКОП ЭЛЕКТРОННЫЙ

0 64

МИКРОСКОП ЭЛЕКТРОННЫЙ
— применяется для изучения объектов размерами < 1—0,1 μ, которые не могут быть изучены при помощи световой микроскопии. М. э. делятся на просвечивающие, отражательные, эмиссионные, растровые, теневые. Наиболее распространенными являются М. э. просвечивающего типа, в которых изображение получается при прохождении электронов через объект. В зависимости от рода электронных линз они могут быть либо магнитными (ЭМ-3, ЭМ-8, МЭМ-50, ЭМ-100, УЭМ-100), либо электростатическими (ЭСМ-50 и др.). Последняя модель ЭМВ-100Л позволяет исследовать частицы размером 2,5А. При изучении минералогических объектов с применением М. э. возможны два направления: 1) исследование морфологических особенностей тонкодисперсных частиц (размерами < 0,001 мм), составляющих м-лы и п.; 2) исследование структуры поверхностей или срезов глин, аргиллитов, углей, руд, акцессорий роста на кристаллах и т. п. Препараты для исследования тонкодисперсных частиц приготовляются с помощью методов: суспензий, внедрения в пленку и порошков. Изучение структуры поверхностей производится методом реплик (отпечатков), когда исследуется не сам объект, а копия с рельефа его поверхности. М. э. особенно широкое применение получил при исследовании глин и тонко дисперсных м-лов. Он позволяет: изучать морфологические особенности м-лов, степень их окристаллизованности и разрушенности, наличие включений и т. п.; наблюдать процессы кристаллизации м-лов; судить о степени дисперсности тонких фракций глин; судить об однородности минер. состава исследуемого образца и наличии в нем примесей; осуществлять гониометрическое исследование ограненных м-лов, глинистых и др. м-лов размером

Войти с помощью: 
Подписаться
Уведомление о
guest
0 Комментарий
Встроенные отзывы
Посмотреть все комментарии
0
Будем рады вашим мыслям, пожалуйста, прокомментируйте.x
()
x